-100至+20℃dp低湿度区域测量工业用露点计

产品名称: -100至+20℃dp低湿度区域测量工业用露点计

产品型号: TK-100

产品特点: -100至+20℃dp低湿度区域测量工业用露点计
采用陶瓷传感器技术，露点测量精度为 ±2℃，能满足多数工业场合对露点测量的精度要求，是一种兼具性价比的选择。
测量范围为 - 100℃至 + 20℃，其测量下限更低，在一些对极低湿度环境进行监测的场合，如半导体制造中对高纯度气体的湿度监测，具有更广泛的适用性。
采用静电容量式原理及陶瓷传感器技术，响应时间可达秒级，能快速捕捉气体中水分含量的变化，可

-100至+20℃dp低湿度区域测量工业用露点计 的详细介绍

-100至+20℃dp低湿度区域测量工业用露点计

采用陶瓷传感器技术，露点测量精度为 ±2℃，能满足多数工业场合对露点测量的精度要求，是一种兼具性价比的选择。
测量范围为 - 100℃至 + 20℃，其测量下限更低，在一些对极低湿度环境进行监测的场合，如半导体制造中对高纯度气体的湿度监测，具有更广泛的适用性。
采用静电容量式原理及陶瓷传感器技术，响应时间可达秒级，能快速捕捉气体中水分含量的变化，可用于对响应速度要求较高的半导体生产等场景。
传感器采用超薄多孔绝缘层(厚度 0.5μm 以下)和导电金属层设计，结合温度补偿技术，确保输出线性化且数据稳定，每个传感器特性记录在变送器中，具有高度兼容性和长期可靠性。

采用陶瓷传感器技术，露点测量精度为 ±2℃，能满足多数工业场合对露点测量的精度要求，是一种兼具性价比的选择。
测量范围为 - 100℃至 + 20℃，其测量下限更低，在一些对极低湿度环境进行监测的场合，如半导体制造中对高纯度气体的湿度监测，具有更广泛的适用性。
采用静电容量式原理及陶瓷传感器技术，响应时间可达秒级，能快速捕捉气体中水分含量的变化，可用于对响应速度要求较高的半导体生产等场景。
传感器采用超薄多孔绝缘层(厚度 0.5μm 以下)和导电金属层设计，结合温度补偿技术，确保输出线性化且数据稳定，每个传感器特性记录在变送器中，具有高度兼容性和长期可靠性。

采用陶瓷传感器技术，露点测量精度为 ±2℃，能满足多数工业场合对露点测量的精度要求，是一种兼具性价比的选择。
测量范围为 - 100℃至 + 20℃，其测量下限更低，在一些对极低湿度环境进行监测的场合，如半导体制造中对高纯度气体的湿度监测，具有更广泛的适用性。
采用静电容量式原理及陶瓷传感器技术，响应时间可达秒级，能快速捕捉气体中水分含量的变化，可用于对响应速度要求较高的半导体生产等场景。
传感器采用超薄多孔绝缘层(厚度 0.5μm 以下)和导电金属层设计，结合温度补偿技术，确保输出线性化且数据稳定，每个传感器特性记录在变送器中，具有高度兼容性和长期可靠性
。
主要应用于电子、制药、化工、食品等工业生产领域，尤其是在半导体制造行业优势明显，可用于洁净室环境监测、气体纯度控制等环节，同时也适用于天然气、石油等能源领域以及环境监测与科研领域
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