光电器件检测光纤输出多波长高功率LD光源

光电器件检测光纤输出多波长高功率LD光源

1. 高功率 & 多波长
   15 mW–100 mW 连续可调（波长不同功率上限不同），可选 375 nm–1064 nm 共 14 种标准波长，覆盖紫外到近红外，可针对不同光学镀膜、材料或探测器响应波段做匹配测试

   。
2. 1 m 多模光纤输出
   采用 SI105/125 μm、NA0.22 多模光纤，末端 FC/PC 连接器，出光斑直径≈0.8 mm，可直接对准 PD、PMT、光纤跳线或光学镜片，实现“非接触"定点照射，避免空间对准误差

   。
3. 温控 + 恒流双环路
   内部 TEC 把 LD 芯片稳定在 ±0.05 °C，功率漂移＜±2 %，波长漂移＜±0.05 nm，保证长时间扫描或重复性测试数据一致

   。
4. 脉冲/连续双模式
   外接 TTL 可触发 0–1 kHz 脉冲，占空比 0–100 % 可调，方便测量探测器响应时间、饱和特性或荧光寿命 。
5. 手掌大小、自然空冷
   70 × 50 × 100 mm、400 g，无需外置散热；AC 100–240 V 全球电压，可直接放在显微镜平台、探针台或积分球支架上

   。
6. 典型检查场景
• PD/PMT 量子效率扫描：固定波长步进 1 nm，记录响应电流
• 光纤跳线损耗测试：375 nm 或 405 nm 端面照射，测量输出端功率
• 滤光片/透镜透射率：单波长通过样品前后功率比对
• 相机模组对准：520 nm 或 635 nm 光纤出射，作为亚像素级基准点