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半导体高精度检测卤素光源灯装置

产品名称: 半导体高精度检测卤素光源灯装置
产品型号: YP-150ID
产品特点: 半导体高精度检测卤素光源灯装置
日本山田光学 YP-150ID 是一款高亮度卤素光源设备,主要用于半导体晶圆、液晶基板等表面缺陷的宏观检查。以下是其核心特点和技术参数:
主要特点:
超高亮度:样品表面照度可达 400,000 Lx 以上,能清晰检测微小划痕、异物、抛光不均等缺陷 。
冷镜技术:采用冷镜减少热影响,热效应仅为传统铝镜的 1/3,有效?;ぱ泛蜕璞?。
色温高:卤素灯色温达 3,400

半导体高精度检测卤素光源灯装置 的详细介绍

半导体高精度检测卤素光源灯装置

半导体高精度检测卤素光源灯装置

日本山田光学 YP-150ID 是一款高亮度卤素光源设备,主要用于半导体晶圆、液晶基板等表面缺陷的宏观检查。以下是其核心特点和技术参数:

主要特点:

  • 超高亮度:样品表面照度可达 400,000 Lx 以上,能清晰检测微小划痕、异物、抛光不均等缺陷 。
  • 冷镜技术:采用冷镜减少热影响,热效应仅为传统铝镜的 1/3,有效?;ぱ泛蜕璞?。
  • 色温高:卤素灯色温达 3,400K,照明稳定、锐利,适合高精度检测。
  • 两段式切换:支持一键切换高照度与低照度观察模式,适应不同检测需求 。

技术参数(YP-150ID):

表格
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项目参数值
照射直径φ30 mm
照度≥400,000 Lx
光束距离140 mm
灯泡型号JCR15V150W(牛尾)
灯泡寿命35–50 小时
色温3,400 K
冷却方式强制风扇冷却
尺寸(灯屋部分)100×245×116 mm
重量(灯屋部分)约 1.7 kg
电源AC 100V,50/60Hz
功耗约 200W

应用场景:

  • 半导体晶圆表面缺陷检测(如划痕、异物、雾度等);
  • 液晶基板、玻璃等材料的表面质量检查;
  • 适用于 6 英寸及以下尺寸样品的检查 。
YP-150ID 是精密制造行业中用于高亮度照明检测的理想选择,尤其适合对微小缺陷有高灵敏度要求的场合。
日本山田光学 YP-150ID 是一款高亮度卤素光源设备,主要用于半导体晶圆、液晶基板等表面缺陷的宏观检查。以下是其核心特点和技术参数:

主要特点:

  • 超高亮度:样品表面照度可达 400,000 Lx 以上,能清晰检测微小划痕、异物、抛光不均等缺陷 。
  • 冷镜技术:采用冷镜减少热影响,热效应仅为传统铝镜的 1/3,有效?;ぱ泛蜕璞?div data-v-6ab92dd7="" class="rag-tag text" data-site-name="搜狐" style="font: inherit; scrollbar-color: transparent transparent; margin: 0px 4px; padding: 1px 8px; border: 0px; vertical-align: baseline; box-sizing: border-box; position: relative; top: -1px; cursor: pointer; user-select: none; max-width: 100px; min-width: 18px; height: 24px; display: inline-flex; align-items: center; justify-content: center; border-radius: 24px; background-color: var(--Fills-F2); white-space: nowrap; color: var(--Labels-Secondary) !important;">
    。
  • 色温高:卤素灯色温达 3,400K,照明稳定、锐利,适合高精度检测
    。
  • 两段式切换:支持一键切换高照度与低照度观察模式,适应不同检测需求 。
  • 技术参数(YP-150ID):

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    项目参数值
    照射直径φ30 mm
    照度≥400,000 Lx
    光束距离140 mm
    灯泡型号JCR15V150W(牛尾)
    灯泡寿命35–50 小时
    色温3,400 K
    冷却方式强制风扇冷却
    尺寸(灯屋部分)100×245×116 mm
    重量(灯屋部分)约 1.7 kg
    电源AC 100V,50/60Hz
    功耗约 200W

    应用场景:

    • 半导体晶圆表面缺陷检测(如划痕、异物、雾度等);
    • 液晶基板、玻璃等材料的表面质量检查;
    • 适用于 6 英寸及以下尺寸样品的检查 。
    YP-150ID 是精密制造行业中用于高亮度照明检测的理想选择,尤其适合对微小缺陷有高灵敏度要求的场合。



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