数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
产品名称: 数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
产品型号: MX1-DL
产品特点: 数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计,提供精确的测量结果。1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素屏幕,25Hz刷新频率,确保了清晰的显示效果。手动或自动增益控制,根据测量模式选择(50dB增益范围),以适应不同的测量需求。内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG),提高了测量的准确性。
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪 的详细介绍
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
数字式高精度测量超声波腐蚀厚度测厚仪
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点:采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计,1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素屏幕,25Hz刷新频率。手动或自动增益控制,根据测量模式选择(50dB增益范围),内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG),A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式,两个独立的门,脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式,双晶探头,内置4GB SD卡,通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数,能够快速获取测量结果。
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点:采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计,1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素屏幕,25Hz刷新频率。手动或自动增益控制,根据测量模式选择(50dB增益范围),内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG),A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式,两个独立的门,脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式,双晶探头,内置4GB SD卡,通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数,能够快速获取测量结果。
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点:采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计,1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素屏幕,25Hz刷新频率。手动或自动增益控制,根据测量模式选择(50dB增益范围),内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG),A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式,两个独立的门,脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式,双晶探头,内置4GB SD卡,通过USB Type-C连接到计算机。显示速度为每秒10到200个读数,能够快速获取测量结果。
美国达高特Dakota的高精度分析用超声波腐蚀厚度测厚仪MX1-DL具备以下特点:采用FPGA技术的100Hz数字信号处理器平台设计,1/8英寸VGA灰色显示,240x160象素屏幕,25Hz刷新频率。手动或自动增益控制,根据测量模式选择(50dB增益范围),内置于探头类型中的线性时间相关增益(TDG),A-扫描(射频、整流)、B-扫描和大数字显示方式,两个独立的门,脉冲-回波(P-E)测量模式和回波-回波(E-E)测量模式,双晶探头,内置4GB SD卡,通过USB Type-C连接到计算机。
显示速度为每秒10到200个读数,能够快速获取测量结果。